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OMRON

オムロン キリンテクノシステム株式会社 Japan

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展示会 出展情報

展示会・内覧会案内

2010年09月21日

2010東京国際包装展(TOKYO PACK 2010)に出展いたします。

会期:2010/10/5(火) ~10/8(金)
公式サイト:http://www.tokyo-pack.jp/
場所:東京ビッグサイト

【展示機械のご案内】

  1. 食品・飲料業界向け:最新のラベル検査機と異種キャップ検査機誕生!!「マッチング機能搭載で高品質検査」が可能となりました。
    「再演算機能強化」・「フェールセーフ化」・「設定値の変更履歴」などの管理機能を強化しました。
    同時展示の「ピッチ割装置」・「キャップ水滴除去装置」・「排出装置(HSP)」等の周辺機器も充実しています。

【特長】

  1. マッチング機能搭載で高品質なラベル検査が可能。
  2. 透明ラベル部分の印刷も品質検査可能、びんに印刷されたラベルの品質検査などにも活用可能。
  3. 製びん業界向け:びん用新型びり検査機紹介!!
    良品を流す事で、自動で検査基準設定を行う「テンプレートマッチング方式」を組み入れました。

【特長】

  1. 検査基準となるテンプレートを生成し、高速撮像によるびんびり検査可能。
  2. カメラと照明のユニット化により、型替時間の短縮。
  3. 酒造業界向け:マルチびん対応ストレート式液中異物検査機開発!!
    酒造ライン向けに液中異物検査を可能にした新機種を開発しました。

【特長】

  1. カップびんから一升びんまで、マルチライン対応。
  2. ストレート式検査のため、既存ラインに大きなライン改造を行わず組み込みが可能。

開催期間中は、技術的なご相談もお受けできますので、お気軽に当社ブース4g-13(東展示棟4ホール)までお立ち寄り下さい。

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